【工作簡介】在鈉離子電池（SIBs）中，低的初始庫侖效率（ICE）通常是由不可逆的相轉化和困難的解吸引起的，尤其是在過渡金屬化合物（TMCs）上。然而，反應可逆性差的潛在物理化學機制仍然是一個有爭議的問題。近日，廈門大學廖洪鋼教授等團隊通過使用原位透射電子顯微鏡和原位X射線衍射，證明了NiCoP@C是由P在碳層中的快速遷移和放電過程中分離的Na3P的優先形成引起的。通過對碳涂層進行改性，抑制了Ni/Co/P原子的遷移，從而提高了ICE和循環穩定性。抑制引起組分分離和快速性能退...

掃描電鏡加熱原位系統將MEMS氣氛環境微腔和加熱模塊集成到掃描電鏡樣品臺上，在掃描電鏡中制造可控的環境并且可以對實驗樣品原位加熱。可對樣品進行可控溫度的加熱，電學測量芯片可對樣品進行電性質測量。并可在進行加熱和電學測量的同時，動態、高分辨地對樣品的晶體結構、化學組分、元素價態進行綜合表征，極大拓展了透射電鏡的功能和應用范圍。使用同一個SEM樣品臺既可以實現不同的原位解決方案電學、加熱等不同應用。本公司提供的CHIP-NOVA掃描電鏡加熱原位系統有優異的熱學性能：1.高精密紅外...

在透射電鏡中實時表征材料在加熱或加電條件下原子尺度結構及成分變化對于理解材料的熱學、電學性能以及微觀結構演化具有至關重要的意義。透射電鏡雙傾光熱原位系統通過MEMS芯片和光纖引入的光源在原位樣品臺內構建熱、光復合多場自動控制及反饋測量系統，結合EDS、EELS、SAED、HRTEM、STEM等多種不同模式，實現從納米甚至原子層面實時、動態監測樣品在真空環境下隨溫度、光場變化產生的微觀結構、相變、元素價態、微觀應力以及表/界面處的原子級結構和成分演化等關鍵信息。透射電鏡雙傾光熱...

透射電子顯微鏡(TEM)是使用較為廣泛的電子顯微鏡之一，和掃描電子顯微技術共同組成了電子顯微學的“兩大支柱”。TEM的測試原理是利用透過樣品的電子進行成像和結構分析，由于電子的穿透能力較弱，樣品的厚度、導電性、磁性和分散性等特征對測試結果的好壞起到直接的影響。因此，相比于掃描電鏡樣品的制備，透射電鏡的制樣更加復雜和精細，對于不同的材料應當根據其特性并采用合適的制樣方法。TEM測試中，為了獲取高質量的樣品圖像，制樣很關鍵。在制樣的過程中，其中載網的選擇也是至關重要。載網通常是一...

透射電鏡是一種把經加速和聚集的電子束透射到非常薄的樣品上，電子與樣品中的原子碰撞而改變方向，從而產生立體角散射。散射角的大小與樣品的密度、厚度等相關，因此可以形成明暗不同的影像，影像在放大、聚焦后在成像器件上顯示出來的顯微鏡。透射電鏡三維重構樣品桿基于樣品端超薄設計或360°旋轉設計，滿足生命科學、材料科學領域對三維重構表征的不同需求。透射電鏡三維重構樣品桿通過一系列不同傾斜角獲得樣品的二維平面成像信息，使用軟件處理后可獲得三維立體成像信息。直接使用3mm銅網樣品進行觀察，支...