【工作簡介】在鈉離子電池（SIBs）中，低的初始庫侖效率（ICE）通常是由不可逆的相轉(zhuǎn)化和困難的解吸引起的，尤其是在過渡金屬化合物（TMCs）上。然而，反應可逆性差的潛在物理化學機制仍然是一個有爭議的問題。近日，廈門大學廖洪鋼教授等團隊通過使用原位透射電子顯微鏡和原位X射線衍射，證明了NiCoP@C是由P在碳層中的快速遷移和放電過程中分離的Na3P的優(yōu)先形成引起的。通過對碳涂層進行改性，抑制了Ni/Co/P原子的遷移，從而提高了ICE和循環(huán)穩(wěn)定性。抑制引起組分分離和快速性能退...

掃描電鏡加熱原位系統(tǒng)將MEMS氣氛環(huán)境微腔和加熱模塊集成到掃描電鏡樣品臺上，在掃描電鏡中制造可控的環(huán)境并且可以對實驗樣品原位加熱。可對樣品進行可控溫度的加熱，電學測量芯片可對樣品進行電性質(zhì)測量。并可在進行加熱和電學測量的同時，動態(tài)、高分辨地對樣品的晶體結(jié)構(gòu)、化學組分、元素價態(tài)進行綜合表征，極大拓展了透射電鏡的功能和應用范圍。使用同一個SEM樣品臺既可以實現(xiàn)不同的原位解決方案電學、加熱等不同應用。本公司提供的CHIP-NOVA掃描電鏡加熱原位系統(tǒng)有優(yōu)異的熱學性能：1.高精密紅外...

在透射電鏡中實時表征材料在加熱或加電條件下原子尺度結(jié)構(gòu)及成分變化對于理解材料的熱學、電學性能以及微觀結(jié)構(gòu)演化具有至關(guān)重要的意義。透射電鏡雙傾光熱原位系統(tǒng)通過MEMS芯片和光纖引入的光源在原位樣品臺內(nèi)構(gòu)建熱、光復合多場自動控制及反饋測量系統(tǒng)，結(jié)合EDS、EELS、SAED、HRTEM、STEM等多種不同模式，實現(xiàn)從納米甚至原子層面實時、動態(tài)監(jiān)測樣品在真空環(huán)境下隨溫度、光場變化產(chǎn)生的微觀結(jié)構(gòu)、相變、元素價態(tài)、微觀應力以及表/界面處的原子級結(jié)構(gòu)和成分演化等關(guān)鍵信息。透射電鏡雙傾光熱...

透射電子顯微鏡(TEM)是使用較為廣泛的電子顯微鏡之一，和掃描電子顯微技術(shù)共同組成了電子顯微學的“兩大支柱”。TEM的測試原理是利用透過樣品的電子進行成像和結(jié)構(gòu)分析，由于電子的穿透能力較弱，樣品的厚度、導電性、磁性和分散性等特征對測試結(jié)果的好壞起到直接的影響。因此，相比于掃描電鏡樣品的制備，透射電鏡的制樣更加復雜和精細，對于不同的材料應當根據(jù)其特性并采用合適的制樣方法。TEM測試中，為了獲取高質(zhì)量的樣品圖像，制樣很關(guān)鍵。在制樣的過程中，其中載網(wǎng)的選擇也是至關(guān)重要。載網(wǎng)通常是一...

透射電鏡是一種把經(jīng)加速和聚集的電子束透射到非常薄的樣品上，電子與樣品中的原子碰撞而改變方向，從而產(chǎn)生立體角散射。散射角的大小與樣品的密度、厚度等相關(guān)，因此可以形成明暗不同的影像，影像在放大、聚焦后在成像器件上顯示出來的顯微鏡。透射電鏡三維重構(gòu)樣品桿基于樣品端超薄設計或360°旋轉(zhuǎn)設計，滿足生命科學、材料科學領(lǐng)域?qū)θS重構(gòu)表征的不同需求。透射電鏡三維重構(gòu)樣品桿通過一系列不同傾斜角獲得樣品的二維平面成像信息，使用軟件處理后可獲得三維立體成像信息。直接使用3mm銅網(wǎng)樣品進行觀察，支...