透射電鏡液體光學(xué)原位系統(tǒng)采用MEMS微加工工藝在原位樣品臺內(nèi)構(gòu)建液氛納米實驗室，通過樣品臺內(nèi)置的光纖將光作為外場條件搭載其上，通過MEMS芯片和光纖引入的光源對樣品施加光場刺激條件，在進行光學(xué)性質(zhì)測量的同時，結(jié)合使用EDS、EELS、SAED、HRTEM、STEM等多種不同模式，實現(xiàn)從納米甚至原子層面實時、動態(tài)監(jiān)測樣品在液氛環(huán)境中隨光場變化產(chǎn)生的微觀結(jié)構(gòu)演化、反應(yīng)動力學(xué)、相變、元素價態(tài)、化學(xué)變化、微觀應(yīng)力以及表/界面處的原子級結(jié)構(gòu)和成分演化等關(guān)鍵信息。實驗中，樣品被密封在超薄...

透射電子顯微鏡是提供在較高時間分辨率下得到原子級空間分辨率的實驗手段。透射電鏡力電原位系統(tǒng)是在標(biāo)準(zhǔn)外形的透射電鏡樣品桿內(nèi)加裝掃描探針控制單元，通過探針對單個納米結(jié)構(gòu)進行操縱和電學(xué)測量，并可在電學(xué)測量的同時，動態(tài)、高分辨地對樣品的晶體結(jié)構(gòu)、化學(xué)組分、元素價態(tài)進行綜合表征。本公司提供的透射電鏡力電原位系統(tǒng)是通過MEMS芯片在原位樣品臺內(nèi)構(gòu)建力、電復(fù)合多場自動控制及反饋測量系統(tǒng)，結(jié)合EDS、EELS、SAED、HRTEM、STEM等多種不同模式，實現(xiàn)從納米層面實時、動態(tài)監(jiān)測樣品在真...

若TEM樣品桿長期暴露于大氣，空氣中水汽及殘留污染物會附著于樣品桿表面。當(dāng)樣品桿重新安裝樣品并插入TEM中時，會發(fā)生：1.樣品桿表面(包括桿內(nèi)外表面)殘存水汽緩慢地釋放，大大延長了TEM抽真空時間(由于原位TEM樣品桿內(nèi)部結(jié)構(gòu)復(fù)雜，內(nèi)表面積大大增加，其進入TEM后抽真空延時現(xiàn)象尤甚)；2.殘留污染物會污染待觀察樣品，甚至?xí)廴綯EM真空腔室及內(nèi)部極靴、探測器等等。高真空存桿儀的極限真空度為10-6mBar(以10桿型號為例，用戶可定制4桿、6桿等不同型號)，為樣品桿提供高真空...

材料的宏觀性能往往與其本身的成分、結(jié)構(gòu)以及晶體缺陷中原子的位置等密切相關(guān)，在電子顯微鏡下觀察微觀結(jié)構(gòu)離不開樣品桿或樣品臺。樣品桿的重要性還在于它是要插側(cè)入式的樣品放置在一個較長的金屬入物鏡，色差又與物鏡性能相關(guān)聯(lián)，這也就桿的*端，金屬通常是黃銅或不銹鋼，沿著使樣品桿與TEM的分辨率聯(lián)系在一起。透射電鏡4孔樣品桿可將最多4個樣品同時置入透射電鏡中，與市面常見的3孔樣品桿相比，大幅提高透射電鏡的使用效率。全新的結(jié)構(gòu)設(shè)計及超高精度的旋鈕換樣方式，幫助降低漂移率，提高成像質(zhì)量。透射電...

CreateWorld-LeadingIn-SituElectronMicroscopySolutions公司簡介CHIPNOVA（超新芯）是早期原位芯片技術(shù)開發(fā)研究者、國家高層次引進人才創(chuàng)辦的高科技企業(yè)，致力于為客戶提供全面的原位表征方案，并將相關(guān)技術(shù)應(yīng)用服務(wù)于民用領(lǐng)域。CHIPNOVA擁有MEMS芯片制造和原位電鏡方面的資深團隊，10余年來產(chǎn)品和技術(shù)不斷迭代提升，目前已涉及原位芯片、生化醫(yī)療芯片、集成傳感芯片等。其中原位芯片在材料、催化、能源、環(huán)境、化學(xué)、生物等領(lǐng)域廣泛應(yīng)...